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技術文章
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芯片平整度的重要性
2025-06-27
針腳平整度檢測的重要性在半導體封裝及高密度電子制造領域，芯片焊接針腳的平整度至關重要，它直接影響到產品的電氣性能和長期使用的可靠性。隨著芯片集成度的不斷提高，針腳的尺寸不斷縮小，這也就對檢測設備在精度、效率和抗干擾能力方面提出了更為嚴苛的挑戰。針腳的平整度對半導體芯片的電氣性能和可靠性有重要影響，特別是在集成度不斷提高的情況下，對檢測設備提出了高精度要求。設備的突出性能與優勢半導體芯片引腳測試儀，以其出色的性能在半導體封裝領域脫穎而出。這款儀器能夠高效、精準地檢測芯片焊接針腳...
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旋轉滴界旋轉滴探索液體表面張力
2025-06-26
旋轉滴超低界面張力測量儀是一種通過旋轉滴落方式來測量超低界面張力的儀器。它運用的物理原理和精密的機械設計，能夠在各種條件下對液體表面張力進行測量。這一測量儀的誕生，不僅彌補了傳統測量方法在超低界面張力測量方面的不足，而且較大地推動了相關領域的研究進展。在原理上，利用了旋轉離心力場的作用，使液滴在旋轉過程中受到離心力的作用，從而改變了液滴的形狀和大小。通過對液滴形狀和大小的測量，儀器可以計算出液體的表面張力。這種方法的優勢在于，它能夠在不改變液體性質的條件下，實現超低界面張力的...
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三維超景深顯微鏡使用技巧
2025-06-26
以下是提升三維超景深顯微鏡觀測效率與精度的5大關鍵策略，結合設備特性與實際應用場景總結而成：1.光源優化與參數匹配策略：根據樣品特性調節光源亮度和光斑大小。觀察透明樣品時，使用較弱光源避免過度曝光；觀察不透明樣品時，增強光源確保亮度均勻。案例：在半導體晶圓檢測中，采用多波長組合光源與HDR算法，可解決高反光材料的細節丟失問題，提升缺陷識別率。2.焦距調節與景深合成策略：低倍物鏡下快速定位樣品，再切換至高倍物鏡進行精細觀察。切換物鏡時，先提升鏡筒高度避免碰撞，僅使用微調螺旋調節...
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平整度測量方法
2025-06-25
近年來，各電子產品都向小型化、高集成方向發展，從而高密度焊裝技術的制造變得很廣泛，元器件間距越來越小，因為這些原因，印刷電路板的焊錫膏涂層厚度變薄、同時回流焊路內融解溫度也變高，增大了對零件的熱負荷。焊接時的接合強度、可靠性、焊錫的融化特性等是產生次品的原因。其中高溫焊接時的表面貼裝零件引腳的平整度變化是焊接不良的重要原因。通過分析電子零件的加熱特性，可以發現回流焊爐內發生的不良原因。同時也可以確認通過改變零件設計進而改善加熱特性。測定結果不只是用來判定零件的質量，還可以作為...
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三維超景深顯微鏡的用途
2025-06-24
一、什么是3D超景深顯微鏡3D超景深顯微鏡是一種利用激光束進行三維成像的高級顯微鏡，與普通顯微鏡相比，它采用了干涉條紋顯微鏡和相移干涉顯微鏡等設備，并通過計算機控制實現三維成像，支持明場、暗場、偏光、微分干涉等多種觀測方法，能夠實現實時2D和3D圖像拼接。二、3D超景深顯微鏡的用途D超景深顯微鏡在多個領域都有廣泛應用，主要包括材料科學、電子工程、生物醫學、納米科技、表面處理和微納加工等領域?。1、在材料科學領域，3D超景深顯微鏡可用于觀察和分析各種材料的微觀結構，包括金屬、陶...
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超景深三維顯微鏡系統介紹
2025-06-23
超景深三維顯微鏡系統是一種結合體視顯微鏡和金相顯微技術的分析儀器，通過環形照明、斜照明、透射光和偏振光技術，突破傳統光學顯微鏡景深限制，可在科研與教學中實現細微結構的高清晰度成像。該系統支持平面及三維測量，搭載電動變倍器和平行光路變倍系統，適用于浮游生物觀測、材料表面形貌分析等領域。1.光學系統：采用環形照明、斜照明、透射光和偏振光技術，提升成像對比度與清晰度，尤其適用于浮游生物等透明樣本觀測。2.變倍與成像：配備電動變倍器與平行光路變倍系統，支持無縫變焦。搭載200萬有效像...
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接觸角測量儀測量怎么測量薄膜
2025-06-20
接觸角測量儀是一種常用的實驗儀器，用于測量材料表面的接觸角。以下是使用接觸角測量儀測量薄膜材料接觸角的步驟：步驟1：準備工作準備好需要測量的薄膜材料，并將其放置在接觸角測量儀的測試平臺上，用夾具夾好。確保薄膜表面沒有雜質和污染物，以確保測量數據的準確性。測試過程中薄膜表面如含有任何雜質都會影響測試的數據，因此，需謹慎操作測量儀器。步驟2：接觸角測量儀軟件滴液通過軟件操作，滴液注射器滴注入0.5微升純凈水，確保滴加的水滴大小相同，可以對不同位置進行水滴角測量。步驟3：測量接觸角...
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非接觸式粗糙度儀的檢測應用
2025-06-19
表面粗糙度檢測儀（共聚焦顯微鏡）采用多孔共聚焦技術，結合ccd的影像攝取，以有許多孔洞的旋轉盤取代偵測器的孔洞，再將物鏡垂直移動，以類似斷層攝影方式，可在短時間(約幾秒)內量測物體的三維數據。其測量方式是非接觸式，不會破壞樣品的表面，不需要在真空環境下測量，也可以用共聚焦顯微鏡測量的功能來觀測樣本，其在嚴酷的工作環境下，也能正常使用。由于使用了共聚焦的方法，在測量漸變較大的高度時，跟其他方法相比，可以更量測物體高度，建立3d立體影像，優勢相當明顯。精密測量、表面分析系統機臺功...
