產(chǎn)品簡介
半導體共面性測量設備結構美觀大方，操作簡便，結合本公司自主研發(fā)的測量軟件，可實現(xiàn)準確的元器件共面性、工件外形尺寸等測量，性價比高、拓展性強、功能全面、可滿足各種常規(guī)測量需求。

產(chǎn)品型號：PZ-332C

廠商性質：生產(chǎn)廠家

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產(chǎn)品分類

PRODUCT CLASSIFICATION

光學測量儀器

共面性測量儀超景深顯微鏡光學影像測量儀非接觸光學掃描儀

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BGA共面度檢測儀的維護和保養(yǎng)有哪些要點？

IC引腳元器件共面性測量儀

光學影像測量軟件

PZ-EVM-3020P型精密平行度測量儀

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產(chǎn)品簡介：

共面性指表面組裝元器件引腳垂直高度偏差，即引腳的高腳底所成水平面與引腳的腳底形成的水平面之間的垂直距離。PZ-332C半導體共面性測量設備龍門結構美觀大方，操作簡便，結合本公司自主研發(fā)的測量軟件，可實現(xiàn)準確的元器件共面性、工件外形尺寸等測量，性價比高、拓展性強、功能全面、可滿足各種常規(guī)測量需求。

半導體共面性測量設備

產(chǎn)品特點：

具有快速對焦、自動尋邊、強大的編程和自動測量功能
采用亞像素細分技術，提高圖像邊界分辨能力
操縱桿/鼠標操作，方便易用
程控恒流驅動式八區(qū)表面冷光源，可適應復雜的工件測量
激光指示器指示測量位置，方便快速定位
在線SPC數(shù)據(jù)處理分析，大批量治具測量功能
三軸伺服控制，定位精度高速度快，XY速度可達300mm/s，運行平穩(wěn)
自主開發(fā)的嵌入式模塊控制系統(tǒng)，將復雜的控制系統(tǒng)集成在儀器內(nèi)部，穩(wěn)定性更高
采用花崗石底座，性能穩(wěn)定，不易變形

產(chǎn)品規(guī)格：

型號 PZ-332C
XY軸運動視覺量程	≥400mm×300mm
XY軸運動激光量程	≥300mm×300mm
Z軸運動量程	100mm
XYZ光柵數(shù)顯分辨率	0.5µm
XY軸運動定位精度	±3µm
載物臺防靜電處理	加防靜電膠皮
載物臺承重	≥2公斤
可檢測最小球直徑	≤60µm
視覺影像系統(tǒng)
光學鏡頭倍率	0.6X~8X
視頻總放大倍率	約16X~420X
光學鏡頭物方視場	約1mm~10mm
光學鏡頭工作距離	約80mm
XY示值誤差（視覺測量）	±（2.5+L/200）µm
高清晰度工業(yè)數(shù)字相機	200W
底光源、環(huán)形表面光源、同軸光源	程控LED冷光源
線激光頭參數(shù)
線激光Z向靜態(tài)測量范圍	5.2mm
激光線總寬度	14.5mm
Z向運動測量示值誤差（激光測量）	±5µm
激光線點間距	5µm
工控主機及顯示器
CPU	Intel i7
內(nèi)存	32G
液晶顯示器	23.8寸
硬盤	2TB
其它技術參數(shù)
電源	AC220V 50/60HZ 1200W
儀器凈重	約760kg
儀器外形尺寸（長寬高）	1100mm×1000mm×1550mm
使用環(huán)境	室溫20℃±2℃，濕度低于60%，振動<0.002g,低于15Hz,